福建透射測量專譜光電測量系統(tǒng) 杭州譜鐳光電供應(yīng)

專譜光電激光器系統(tǒng)的操作便捷性專譜光電的激光器系統(tǒng)在操作便捷性方面表現(xiàn)出色，具體體現(xiàn)在以下幾個方面：1. 結(jié)構(gòu)小巧，攜帶方便專譜光電的激光器系統(tǒng)（如 SPL-Laser-785）采用緊湊設(shè)計，體積小、重量輕，便于攜帶和現(xiàn)場使用。例如，SPL-Laser-785 的外觀尺寸為 150x102x200 mm，重量*為 2.2 kg。2. 上位機控制與多種保護功能系統(tǒng)包含上位機控制功能，用戶可以通過計算機軟件進行遠程控制和參數(shù)設(shè)置，操作更加便捷。此外，激光器還配備了急停開關(guān)和短接保護功能，確保實驗的**性。3. 連續(xù)可調(diào)功率與快速預(yù)熱激光器的輸出功率可以連續(xù)調(diào)節(jié)，用戶可以根據(jù)實驗需求靈活調(diào)整功率。同時，激光器的預(yù)熱時間*為 15 分鐘，能夠快速進入工作狀態(tài)。微流控領(lǐng)域：觀察和精確定位樣品區(qū)域，進行熒光、拉曼和反射光譜的測量。福建透射測量專譜光電測量系統(tǒng)

應(yīng)用領(lǐng)域LIBS技術(shù)因其快速、非接觸、無需樣品制備的特點，廣泛應(yīng)用于多個領(lǐng)域：工業(yè)過程控制：用于冶金、采礦、環(huán)境分析以及航空航天和制藥等專業(yè)材料領(lǐng)域的定量元素分析。材料科學(xué)：用于薄涂層的深度剖析和金屬中夾雜物的微米級映射。環(huán)境監(jiān)測：用于水溶液廢液的連續(xù)原位分析。資源回收：用于鋁合金等金屬材料的快速分類。實驗室研究：用于材料特性分析和質(zhì)量控制。系統(tǒng)特點專譜LIBS系統(tǒng)具有以下特點：高分辨率光譜儀：配備高分辨率光譜儀，能夠提供精確的元素分析。自動化控制：通過軟件控制激光能量、脈沖延遲時間和門控參數(shù)，實現(xiàn)自動化的數(shù)據(jù)采集和分析。實時監(jiān)測：能夠?qū)崟r監(jiān)測材料成分的變化，適用于工業(yè)過程的在線監(jiān)測。實際應(yīng)用案例工業(yè)鋁合金分選：LIBSorter Al系統(tǒng)能夠?qū)旌箱X廢料進行快速、精確的分類，每秒可分析40個樣本，支持24/7全自動運行。熔體成分實時測量：LIBS技術(shù)被用于實時測量熔融金屬中的元素成分，提高生產(chǎn)效率和質(zhì)量控制。綜上所述，專譜LIBS系統(tǒng)憑借其快速、非接觸、無需樣品制備的特點，在材料分析和工業(yè)應(yīng)用中展現(xiàn)出巨大的潛力和廣泛的應(yīng)用前景。北京Sers芯片專譜光電測量系統(tǒng)成像軟件可以實時觀察物體圖像，捕獲保存圖像或錄像，更改相機曝光增益參數(shù)，具有更高的分辨率。

ProSp 芯片：技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用領(lǐng)域1. ProSp 芯片技術(shù)參數(shù)ProSp 芯片是一種高性能的顯微光譜測量系統(tǒng)的**組件，廣泛應(yīng)用于多種光譜測量和成像應(yīng)用。以下是其主要技術(shù)參數(shù)和特點：光譜范圍：覆蓋從 380 nm 到 2500 nm，適用于紫外、可見光和近紅外光譜測量。顯微光譜模塊：采用共焦光路設(shè)計，優(yōu)化了系統(tǒng)性能，能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率的光譜測量。多功能集成：系統(tǒng)支持顯微熒光、顯微拉曼和顯微反射等多種光譜測量模式。模塊化設(shè)計：顯微光譜模塊可以集成到大部分通用的正置顯微鏡中，實現(xiàn)顯微光譜測量。濾波片槽：模塊中帶有兩個濾波片槽，可以放置激發(fā)濾波片和發(fā)射濾波片，實現(xiàn)不同激發(fā)波長的顯微熒光測量。光斑大?。汗獍叽笮⌒∮?1 微米（@100X，單模光纖耦合輸入），

ProSp-Micro 顯微光譜測量系統(tǒng)在科研領(lǐng)域的具體應(yīng)用激光材料領(lǐng)域應(yīng)用：研究材料的熒光信號和拉曼信號，從而評價材料的性能和參數(shù)指標(biāo)。優(yōu)勢：能夠提供材料在微觀區(qū)域的光譜信息，幫助研究人員優(yōu)化材料的性能。4. 光子晶體領(lǐng)域應(yīng)用：如測量利用光子晶體原理制造的紡織品，測量某微小區(qū)域的顏色值，某個較大區(qū)域的顏色分布情況。優(yōu)勢：通過顯微光譜測量，可以精確分析光子晶體的光學(xué)特性，為新型光子材料的研發(fā)提供支持。5. 珠寶和古籍檢測領(lǐng)域應(yīng)用：通過測量樣品的反射、熒光或拉曼光譜，進行種類識別和真假鑒定。優(yōu)勢：提供高分辨率的光譜數(shù)據(jù)，幫助鑒定珠寶的成分和古籍的保存狀況。專譜光電的激光器系統(tǒng)具有低溫度漂移特性，這對于需要在不同環(huán)境溫度下工作的實驗非常有利。

科研實驗應(yīng)用光譜分析：專譜鎢燈光源適用于紫外-可見-近紅外光譜分析，能夠提供穩(wěn)定的光源，確保測量的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。顯微鏡成像：可用于顯微鏡照明，提供均勻的光強分布，適合細胞成像、組織切片觀察等。光學(xué)實驗：作為光纖通信系統(tǒng)中的光源，提供穩(wěn)定的光信號，適用于光通信、光學(xué)傳感器等領(lǐng)域的研究。材料科學(xué)：在材料研究中，用于光譜分析和成像，幫助研究人員分析材料的光學(xué)特性。專譜鎢燈光源憑借其高亮度、低功耗、長壽命和穩(wěn)定的光譜輸出，成為科研實驗中的理想選擇。其模塊化設(shè)計和靈活的集成能力進一步提升了其在多種應(yīng)用中的適用性。材料研究領(lǐng)域：通過分析材料微觀區(qū)域的光譜，研究其特性。福建透射測量專譜光電測量系統(tǒng)

專譜光電的產(chǎn)品線涵蓋了從光譜儀器到激光器系統(tǒng)，再到光電檢測設(shè)備和實驗樣品的多個領(lǐng)域。福建透射測量專譜光電測量系統(tǒng)

ProSp-Micro40系列顯微光譜測量系統(tǒng)，把透反射、熒光和拉曼光譜測量功能集成到一套顯微平臺上，實現(xiàn)顯微透反射、顯微熒光和顯微拉曼光譜的測量。整套系統(tǒng)由顯微鏡、顯微模塊、光譜儀和光源等構(gòu)成。系統(tǒng)可以選裝二維電控掃描臺，實現(xiàn)Mapping測量功能。產(chǎn)品功能顯微熒光光譜測量顯微拉曼光譜測量顯微透反射光譜測量Mapping光譜測量正常顯微鏡功能多功能、模塊化的顯微光譜系統(tǒng)透反射光譜、熒光光譜和拉曼光譜ProSp-Micro40系列顯微光譜測量系統(tǒng)福建透射測量專譜光電測量系統(tǒng)